|   Spectrometrul cu fluorescenta de raze X SPECTRO MIDEX MID05 a fost conceput pentru sarcinile industriale de analiza elementară, cercetare şi pentru domeniul ştiinţific care necesită o tehnică nedistructivă care să fie extrem de sensibilă şi să ofere puncte de măsurare mici.   SPECTRO MIDEX MID05 a fost dezvoltat pentru toate aceste cerinţe până la cele mai mici detalii. Cu referinţe de la clienţi, acest spectrometru cu fluorescenta de raze X a fost extins şi optimizat. Rezultatul a constat într-un spectrometru ED-XRF care stabileşte noi standarde pentru performanţele analitice şi uşurinţă de folosire.   Acum, la a treia generaţie spectrometrul cu fluorescenta de raze X SPECTRO MIDEX MID05 a dezvoltat o serie de caracteristici generale în ceea ce priveşte viteza, analize nedistructive în puncte mici şi o cartografiere rapidă a suprafeţelor mari (aproape dublu faţă de formatul EC, 233 x 160 mm, 9.2x6.3’’).   Alte cateva specificatii tehnice ale spectrometrului SPECTRO MIDEX MID05 demne de luat in seama sunt:   -  Suprafata? ?mare? ?detector:? ?30? mm² ?pana la 38? ?mm²
  -  Temperatura la care se obtin performante maxime: 20? ?-? ?22? ?pana la 25? °C
  -  ?Timpul maxim de analiza al probelor: 15 pana la  20 secunde?
  -  ?Distanta de lucru: 5 mm fata de proba?
  -  Rezolutia energetica (FWHM)?:? < 130eV masurata pe linia  Ka a Mn
  -  Rata de intrare?: 1.000.000 de pulsatii / secunda
  -  ?Masurare straturilor de acoperire cu aur la o grosime de 7 µ
  -  Contine software cu meniul de baza (Usurinta de utilizare excelenta)
      |